一
、背景

在运输行业中，火车运输发挥着非常大的作用，而火车车轮的质量关系着火车的运行安全。

如今车轮的轮辋已经有成熟且的解决方案

：

 

然而轮毂内圈的制造质量却一直没有高效的检测手段，目前检测手段只有表面检测。

 

相控阵技术可以快速准确的对轮毂内圈进行检测

 

二
、使用设备

奥林巴斯新设备X3

 

 

使用探头：多晶片直探头，一次可进行大面积扫查

 

双晶探头，可对进表面区域有较好的灵敏度

 

 

 

三、扫查过程

 

扫查数据：单晶探头

 

 

 

扫查数据：双晶探头

 

 

 

从图上可以清晰的看出缺陷的大小，深度等信息

 

四、结论

便携式相控阵技术解决了轮毂内圈的检测问题。为了评估制造工艺，可以加装编码器形成C扫描来判断缺陷的稠密程度。

可使用单晶和双晶探头两次扫查进行更加准确的评估。